[1]
Кичак, В.М. і Михалевський, Д.В. 2010. МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ. Вісник Вінницького політехнічного інституту. 5 (Листоп. 2010), 141–146.