В. М. Кичак і Д. В. Михалевський, «МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ», Вісник ВПІ, вип. 5, с. 141–146, Листоп. 2010.