[1]
Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, і В. Й. Білинський, Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці, Вісник Вінницького політехнічного інституту, № 6, с. 8-10, Лис 2010.