Кичак, В. М., і Д. В. Михалевський. «МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ». Вісник Вінницького політехнічного інституту, вип. 5, Листопад 2010, с. 141-6, https://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/1785.