Кичак ВМ, Михалевський ДВ. МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ. Вісник ВПІ [інтернет]. 12, Листопад 2010 [цит. за 07, Травень 2024];(5):141-6. доступний у: https://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/1785