КЛАСИФІКАЦІЯ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ КООРДИНАТНО-ВИМІРЮВАЛЬНИХ СИСТЕМ
Ключові слова:
оптико-електронна система, координати, вимірювальна система, класифікаціяАнотація
Проаналізовано існуючі оптико-електронні координатно-вимірювальні системи та запропоновано їх класифікаціюПосилання
1. Нейманн Р. И. Технология мультисенсорных координатных измерений / Ральф Кристоф Ханс Иоахим Нейманн,
изд. 2, Германия. — 2004 г. — 148 с.
2. Кондратов В. Т. Визуализация в метрологи: уровни, направления, цели, задачи, методы и программное обеспечение /
В. Т. Кондратов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2001. — № 1. — С. 7—22.
3. Богданкевич О. В. Линейные измерения в субмикронном диапазоне / О. В. Богданкевич, В. В. Календин, Ю. А. Ку-
деяров, Л. Н. Невзорова // Метрологическая служба в СССР. — 1987. — Вып. 3. — С. 31—35.
4. Дюков В. Г. Растровая оптическая микроскопия / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. — М. : Наука. — 1992. — 208 с.
5. Білинський Й. Й. Класифікація методів вимірювань розмірів мікроскопічних об’єктів / Й. Й. Білинський, І. В. Ми-
кулка, Б. П. Книш // Вісник Хмельницького національного університету. — 2011. — № 5. — С. 132—135.
6. Аппельт Г. Введение в методы микроскопического исследования / Г. Аппельт. — М. : Медгиз, 1959. — 425 с. —
ISBN: 978-5-458-53348-5.
7. Лашманов О. Ю. Исследование и разработка методов автоматической фокусировки реального масштаба времени
для систем технического зрения / О. Ю Лашманов, А. В. Краснящих // Труды оптического общества им. Д. С. Рождест-
венского. — 2011. — С. 262—266.
8. Hamashima N. Optical measurements of half micron critical dimentions / N. Hamashima, К. Kato, T. Ishizeki. — Ibid. —
P. 92—99.
9. Зуйков А. А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютер-
ной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения : автореф. дис. на соискание науч. степени канд. техн. наук
спец. : 05.11.16. / А. А. Зуйков. — М., 2013 г. — 22 с.
10. Білинський Й. Й. Методи обробки зображення в комп’ютеризованих оптико-електронних системах: моногр. /
Й. Й. Білинський. — Вінниця : ВНТУ, 2010 р. — 272 с. — ISBN 978-966-641-366-9.
11. Deriche R. Using Canny’s criteria to Derive a Recursively implemented optimal edge detection // Int. J. Comput. Vis. —
1998. — No 7(12). — P. 5—12.
изд. 2, Германия. — 2004 г. — 148 с.
2. Кондратов В. Т. Визуализация в метрологи: уровни, направления, цели, задачи, методы и программное обеспечение /
В. Т. Кондратов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2001. — № 1. — С. 7—22.
3. Богданкевич О. В. Линейные измерения в субмикронном диапазоне / О. В. Богданкевич, В. В. Календин, Ю. А. Ку-
деяров, Л. Н. Невзорова // Метрологическая служба в СССР. — 1987. — Вып. 3. — С. 31—35.
4. Дюков В. Г. Растровая оптическая микроскопия / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. — М. : Наука. — 1992. — 208 с.
5. Білинський Й. Й. Класифікація методів вимірювань розмірів мікроскопічних об’єктів / Й. Й. Білинський, І. В. Ми-
кулка, Б. П. Книш // Вісник Хмельницького національного університету. — 2011. — № 5. — С. 132—135.
6. Аппельт Г. Введение в методы микроскопического исследования / Г. Аппельт. — М. : Медгиз, 1959. — 425 с. —
ISBN: 978-5-458-53348-5.
7. Лашманов О. Ю. Исследование и разработка методов автоматической фокусировки реального масштаба времени
для систем технического зрения / О. Ю Лашманов, А. В. Краснящих // Труды оптического общества им. Д. С. Рождест-
венского. — 2011. — С. 262—266.
8. Hamashima N. Optical measurements of half micron critical dimentions / N. Hamashima, К. Kato, T. Ishizeki. — Ibid. —
P. 92—99.
9. Зуйков А. А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютер-
ной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения : автореф. дис. на соискание науч. степени канд. техн. наук
спец. : 05.11.16. / А. А. Зуйков. — М., 2013 г. — 22 с.
10. Білинський Й. Й. Методи обробки зображення в комп’ютеризованих оптико-електронних системах: моногр. /
Й. Й. Білинський. — Вінниця : ВНТУ, 2010 р. — 272 с. — ISBN 978-966-641-366-9.
11. Deriche R. Using Canny’s criteria to Derive a Recursively implemented optimal edge detection // Int. J. Comput. Vis. —
1998. — No 7(12). — P. 5—12.
##submission.downloads##
-
PDF
Завантажень: 39
Переглядів анотації: 175
Як цитувати
[1]
Й. Й. Білинський, М. Й. Юкиш, і І. В. Сухоцька, «КЛАСИФІКАЦІЯ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ КООРДИНАТНО-ВИМІРЮВАЛЬНИХ СИСТЕМ», Вісник ВПІ, вип. 3, с. 15–20, Черв. 2014.
Номер
Розділ
Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка
Ліцензія
Автори, які публікуються у цьому журналі, згодні з такими умовами:
- Автори зберігають авторське право і надають журналу право першої публікації.
- Автори можуть укладати окремі, додаткові договірні угоди з неексклюзивного поширення опублікованої журналом версії статті (наприклад, розмістити її в інститутському репозиторії або опублікувати її в книзі), з визнанням її первісної публікації в цьому журналі.
- Авторам дозволяється і рекомендується розміщувати їхню роботу в Інтернеті (наприклад, в інституційних сховищах або на їхньому сайті) до і під час процесу подачі, так як це може привести до продуктивних обмінів, а також скорішого і ширшого цитування опублікованих робіт (див. вплив відкритого доступу).
