Calculation of probability of reliable operation of radio electronic devices elements based on the analysis of degradation material physical processes

Authors

  • Z. O. Kolodii НУ «Львівська політехніка»
  • L. A. Nedostup НУ «Львівська політехніка»

Keywords:

probability of reliable operation, intensity of element failure, relaxation time

Abstract

More precise formula for calculation of probability of electronic elements reliable operation based on the evaluation of the element’s internal structure state is proposed.

Author Biographies

Z. O. Kolodii, НУ «Львівська політехніка»

доцент кафедри теоретичної радіотехніки і радіовимірювання

L. A. Nedostup, НУ «Львівська політехніка»

завідувач кафедри теоретичної радіотехніки і радіовимірювання

References

1. Kolodiy Z. A. Calculation of tse Noise Level in Electronic Elements / Z. A. Kolodiy, A. Z. Kolodiy // Automatic Control and Computer Sciences. — 2009. — Vol. 43, No. 4. — Р. 179 — 183.
2. Колодій З. О. Флікер-шумова діагностика внутрішньої структури елементів електроніки / З. О. Колодій // Радиоэ-лектроника и информатика. — 2005. — № 3. С. 40—42.
3. Жигальский Г. П. Неравновесный 1/fγ-шум в проводящих пленках и контактах / Г. П. Жигальский // Успехи физи-ческих наук. — 2003. — Т. 173, № 5. — С. 465—490.

Downloads

Abstract views: 110

Published

2010-11-12

How to Cite

[1]
Z. O. Kolodii and L. A. Nedostup, “Calculation of probability of reliable operation of radio electronic devices elements based on the analysis of degradation material physical processes”, Вісник ВПІ, no. 4, pp. 78–80, Nov. 2010.

Issue

Section

Radioelectronics and radioelectronic equipment manufacturing

Metrics

Downloads

Download data is not yet available.