Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці
Ключові слова:
енергетичний центр світлової плями, субпікселна точність, зсувАнотація
Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.##submission.downloads##
-
PDF
Завантажень: 49
Переглядів анотації: 138
Опубліковано
2010-11-12
Як цитувати
[1]
Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, і В. Й. Білинський, «Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці», Вісник ВПІ, вип. 6, с. 8–10, Листоп. 2010.
Номер
Розділ
Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка
Ліцензія
Автори, які публікуються у цьому журналі, згодні з такими умовами:
- Автори зберігають авторське право і надають журналу право першої публікації.
- Автори можуть укладати окремі, додаткові договірні угоди з неексклюзивного поширення опублікованої журналом версії статті (наприклад, розмістити її в інститутському репозиторії або опублікувати її в книзі), з визнанням її первісної публікації в цьому журналі.
- Авторам дозволяється і рекомендується розміщувати їхню роботу в Інтернеті (наприклад, в інституційних сховищах або на їхньому сайті) до і під час процесу подачі, оскільки це сприяє продуктивним обмінам, а також швидшому і ширшому цитуванню опублікованих робіт (див. вплив відкритого доступу).
