Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці

Автор(и)

  • Й. Й. Білинський
  • О. Г. Тарасюк
  • В. Й. Білинський

Ключові слова:

енергетичний центр світлової плями, субпікселна точність, зсув

Анотація

Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.

##submission.downloads##

  • PDF
    Завантажень: 49
Переглядів анотації: 138

Опубліковано

2010-11-12

Як цитувати

[1]
Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, і В. Й. Білинський, «Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці», Вісник ВПІ, вип. 6, с. 8–10, Листоп. 2010.

Номер

№ 6 (2007)

Розділ

Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка

Метрики

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Ліцензія

Автори, які публікуються у цьому журналі, згодні з такими умовами:

  • Автори зберігають авторське право і надають журналу право першої публі­кації.
  • Автори можуть укладати окремі, додат­кові договірні угоди з неексклюзив­ного поширення опублікованої журналом версії статті (наприклад, розмістити її в інститутському репозиторії або опубліку­вати її в книзі), з визнанням її первісної публікації в цьому журналі.
  • Авторам дозволяється і рекомендується розміщувати їхню роботу в Інтернеті (наприклад, в інституційних сховищах або на їхньому сайті) до і під час процесу подачі, оскільки це сприяє продуктивним обмінам, а також швидшому і ширшому цитуванню опубліко­ва­них робіт (див. вплив відкритого доступу).