Measuring device for determining the thickness of metal and polymer films
Keywords:
measurement of the thickness, frequency generators, negative resistanceAbstract
The paper presents the results of the development of measuring device for determining the thickness of metal and polymer films based on the frequency converter with negative resistance. Basic principles of operation of the device, and its realization in the form of electric circuit are defined. The results of experimental determination of the transformation function and its approximation by a polynomial of third degree are presented.References
1. Смышляев А. Р. Коррекция толщины полимерных пленок в процессе их изготовления / А. Р. Смышляев, Б. В. Бер-дышев, Ф. Губерман // Полимерные материалы. — 2007. — № 11. — C. 6—11.
2. Гриневич Ф. Б. Измерительные компенсационно-мостовые устройства с емкостными датчиками / Ф. Б. Гриневич, А. И. Новик.; АН УССР, Ин-т Электродинамики. — Киев : Наукова думка, 1987. — 112 с. — Билиогр. : С. 105—110
(109 назв.).
3. Осадчук О. В. Проблеми вимірювання товщини нанесеного покриття та методи підвищення його точності /
О. В. Осадчук, Р. В. Криночкін // Нові технології. Науковий вісник КУЕІТУ. — 2009. — № 1. — C. 102—105.
4. Смышляев А. Р. Коррекция толщины полимерных пленок в процессе их изготовления. Ч. 2. / А. Р. Смышляев,
Б. В. Бердышев, Ф. Губерман // Полимерные материалы. — 2007. — № 12. — C. 10—16.
5. Криночкін Р. В. Визначення оптимальної схеми підключення вимірювальної ємності до частотного перетворювача товщини / Р. В. Криночкін, О. В. Осадчук // Наукові праці ВНТУ. — 2010. — № 1. — C. 1—7.
6. Яценков В. С. Микроконтроллеры Microchip с аппаратной поддержкой USB / В. С. Яценков. — Москва : Горячая линия-Телеком, 2008. — 400 с. — ISBN 978-5-9912-0030-1.
7. Агуров П. В. Практика программирования USB / П. В. Агуров. — СПб : БХВ-Петербург, 2006. — 624 с. —
ISBN 5-94157-851-2.
2. Гриневич Ф. Б. Измерительные компенсационно-мостовые устройства с емкостными датчиками / Ф. Б. Гриневич, А. И. Новик.; АН УССР, Ин-т Электродинамики. — Киев : Наукова думка, 1987. — 112 с. — Билиогр. : С. 105—110
(109 назв.).
3. Осадчук О. В. Проблеми вимірювання товщини нанесеного покриття та методи підвищення його точності /
О. В. Осадчук, Р. В. Криночкін // Нові технології. Науковий вісник КУЕІТУ. — 2009. — № 1. — C. 102—105.
4. Смышляев А. Р. Коррекция толщины полимерных пленок в процессе их изготовления. Ч. 2. / А. Р. Смышляев,
Б. В. Бердышев, Ф. Губерман // Полимерные материалы. — 2007. — № 12. — C. 10—16.
5. Криночкін Р. В. Визначення оптимальної схеми підключення вимірювальної ємності до частотного перетворювача товщини / Р. В. Криночкін, О. В. Осадчук // Наукові праці ВНТУ. — 2010. — № 1. — C. 1—7.
6. Яценков В. С. Микроконтроллеры Microchip с аппаратной поддержкой USB / В. С. Яценков. — Москва : Горячая линия-Телеком, 2008. — 400 с. — ISBN 978-5-9912-0030-1.
7. Агуров П. В. Практика программирования USB / П. В. Агуров. — СПб : БХВ-Петербург, 2006. — 624 с. —
ISBN 5-94157-851-2.
Downloads
-
PDF (Українська)
Downloads: 64
Abstract views: 199
Published
2010-11-12
How to Cite
[1]
O. V. Osadchuk and R. V. Krynochkin, “Measuring device for determining the thickness of metal and polymer films”, Вісник ВПІ, no. 4, pp. 90–93, Nov. 2010.
Issue
Section
Radioelectronics and radioelectronic equipment manufacturing
License
Authors who publish with this journal agree to the following terms:
- Authors retain copyright and grant the journal right of first publication.
- Authors are able to enter into separate, additional contractual arrangements for the non-exclusive distribution of the journal's published version of the work (e.g., post it to an institutional repository or publish it in a book), with an acknowledgment of its initial publication in this journal.
- Authors are permitted and encouraged to post their work online (e.g., in institutional repositories or on their website) prior to and during the submission process, as it can lead to productive exchanges, as well as earlier and greater citation of published work (See The Effect of Open Access).
