Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці

  • Й. Й. Білинський
  • О. Г. Тарасюк
  • В. Й. Білинський
Ключові слова: енергетичний центр світлової плями, субпікселна точність, зсув

Анотація

Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.
Переглядів анотації: 110 Завантажень PDF: 110
Опубліковано
2010-11-12
Як цитувати
[1]
Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, і В. Й. Білинський, Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці, Вісник Вінницького політехнічного інституту, № 6, с. 8-10, Лис 2010.
Номер
Розділ
Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка

Завантаження

Данные скачивания пока не доступны.