Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці

Автор(и)

  • Й. Й. Білинський
  • О. Г. Тарасюк
  • В. Й. Білинський

Ключові слова:

енергетичний центр світлової плями, субпікселна точність, зсув

Анотація

Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.

##submission.downloads##

Переглядів анотації: 115

Опубліковано

2010-11-12

Як цитувати

[1]
Й. Й. Білинський, О. Г. Тарасюк, і В. Й. Білинський, «Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці», Вісник ВПІ, вип. 6, с. 8–10, Листоп. 2010.

Номер

Розділ

Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка

Метрики

Завантаження

Дані завантаження ще не доступні.

Статті цього автора (авторів), які найбільше читають

1 2 3 4 > >>