КЛАСИФІКАЦІЯ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ КООРДИНАТНО-ВИМІРЮВАЛЬНИХ СИСТЕМ

  • Й. Й. Білинський Вінницький національний технічний університет
  • М. Й. Юкиш Вінницький національний технічний університет
  • І. В. Сухоцька Вінницький національний технічний університет
Ключові слова: оптико-електронна система, координати, вимірювальна система, класифікація

Анотація

Проаналізовано існуючі оптико-електронні координатно-вимірювальні системи та запропоновано їх класифікацію

Біографії авторів

Й. Й. Білинський, Вінницький національний технічний університет
д-р техн. наук, професор, завідувач кафедри електроніки
М. Й. Юкиш, Вінницький національний технічний університет
канд. техн. наук, доцент, доцент кафедри теоретичної електротехніки та електричних вимірювань
І. В. Сухоцька, Вінницький національний технічний університет
аспірантка кафедри електроніки

Посилання

1. Нейманн Р. И. Технология мультисенсорных координатных измерений / Ральф Кристоф Ханс Иоахим Нейманн,
изд. 2, Германия. — 2004 г. — 148 с.
2. Кондратов В. Т. Визуализация в метрологи: уровни, направления, цели, задачи, методы и программное обеспечение /
В. Т. Кондратов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2001. — № 1. — С. 7—22.
3. Богданкевич О. В. Линейные измерения в субмикронном диапазоне / О. В. Богданкевич, В. В. Календин, Ю. А. Ку-
деяров, Л. Н. Невзорова // Метрологическая служба в СССР. — 1987. — Вып. 3. — С. 31—35.
4. Дюков В. Г. Растровая оптическая микроскопия / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. — М. : Наука. — 1992. — 208 с.
5. Білинський Й. Й. Класифікація методів вимірювань розмірів мікроскопічних об’єктів / Й. Й. Білинський, І. В. Ми-
кулка, Б. П. Книш // Вісник Хмельницького національного університету. — 2011. — № 5. — С. 132—135.
6. Аппельт Г. Введение в методы микроскопического исследования / Г. Аппельт. — М. : Медгиз, 1959. — 425 с. —
ISBN: 978-5-458-53348-5.
7. Лашманов О. Ю. Исследование и разработка методов автоматической фокусировки реального масштаба времени
для систем технического зрения / О. Ю Лашманов, А. В. Краснящих // Труды оптического общества им. Д. С. Рождест-
венского. — 2011. — С. 262—266.
8. Hamashima N. Optical measurements of half micron critical dimentions / N. Hamashima, К. Kato, T. Ishizeki. — Ibid. —
P. 92—99.
9. Зуйков А. А. Повышение точности координатных измерений геометрических параметров объектов в компьютер-
ной микроскопии с дополнительным телом в зоне измерения : автореф. дис. на соискание науч. степени канд. техн. наук
спец. : 05.11.16. / А. А. Зуйков. — М., 2013 г. — 22 с.
10. Білинський Й. Й. Методи обробки зображення в комп’ютеризованих оптико-електронних системах: моногр. /
Й. Й. Білинський. — Вінниця : ВНТУ, 2010 р. — 272 с. — ISBN 978-966-641-366-9.
11. Deriche R. Using Canny’s criteria to Derive a Recursively implemented optimal edge detection // Int. J. Comput. Vis. —
1998. — No 7(12). — P. 5—12.
Як цитувати
[1]
Й. Білинський, М. Юкиш, і І. Сухоцька, КЛАСИФІКАЦІЯ ОПТИКО-ЕЛЕКТРОННИХ КООРДИНАТНО-ВИМІРЮВАЛЬНИХ СИСТЕМ, Вісник Вінницького політехнічного інституту, № 3, с. 15-20, 1.
Номер
Розділ
Автоматика та інформаційно-вимірювальна техніка

Найчитабильні статті цього ж автора(ів)

1 2 > >>