Method of relative forecast of electronic equipment reliability by the level of low-frequency noise
Keywords:
method of comparison, measuring, low-frequency noise, electronic equipmentAbstract
New method of prognostication electronic equipment forecast by the level of low-frequency noise is suggested. The characteristic feature of this method is the use of two channels for level of noise measurement. This allows to decrease considerably the level of systematic error, eliminate the influence of temperature characteristics and electromagnetic interference. The paper contains characteristics of the device, flow diagram and operation algorithm of work.References
1. Букингем М. Шумы в электронных приборах и системах; Пер. с англ. / Под. ред. В. Н. Губанкова. — М. : Мир, 1986. — 400 c.
2. Пряников В. С. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов / В. С. Пряников — М.: Энергия, 1978. — 112 c.
3. Кичак В. М. Оцінка якості інтегральних транзисторів за допомогою низькочастотних шумів / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський, В. В. Стронський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2005. — № 2. — С. 177—181.
4. Кичак В. М. Математична шумова модель інтегральних операційних підсилювачів для прогнозування надійності за рівнем низькочастотного шуму / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський // Вісник Вінницького політехнічного інституту. — 2008. — № 3. — С. 102—108.
5. Горлов М. И. Разделение интегральных схем по надежности с использованием 1/f-шума / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Д. Л. Ануфриев // Известия вузов. Электроника. — 2006. — № 1. — С. 84—89.
6. Горлов М. И. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, Д. Ю. Смирнов // Компоненты и технологии. — 2005. — № 8. — С. 198 — 201.
7. Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов / Горлов М. И., Емельянов В. А., Рубцевич И. И., Смирнов Д. Ю. // Микроэлектроника. — 2005. — Т. 34. — № 3. —
С. 27—36.
8. Использование уровня шумов для контроля полупроводниковых изделий при термоциклировании / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Ю. Е. Сегал, А. В. Емельянов // Известия вузов. Электроника. — 2005. — № 6. — С. 89—92.
9. Kester W., Bryant J. Programmable Gain Amplifiers. Op Amp Applications. — Copyright © 2002 By Analog Devices Inc. — ISBN 0-916550-26-5.
10. Красносельский М. А. Системы с гистерезисом / М. А. Красносельский, А. В. Покровский. — М. : Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983. — 272 с.
2. Пряников В. С. Прогнозирование отказов полупроводниковых приборов / В. С. Пряников — М.: Энергия, 1978. — 112 c.
3. Кичак В. М. Оцінка якості інтегральних транзисторів за допомогою низькочастотних шумів / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський, В. В. Стронський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. — 2005. — № 2. — С. 177—181.
4. Кичак В. М. Математична шумова модель інтегральних операційних підсилювачів для прогнозування надійності за рівнем низькочастотного шуму / В. М. Кичак, Д. В. Михалевський // Вісник Вінницького політехнічного інституту. — 2008. — № 3. — С. 102—108.
5. Горлов М. И. Разделение интегральных схем по надежности с использованием 1/f-шума / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Д. Л. Ануфриев // Известия вузов. Электроника. — 2006. — № 1. — С. 84—89.
6. Горлов М. И. Возможность отбраковки полупроводниковых приборов по уровню низкочастотного шума / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, Д. Ю. Смирнов // Компоненты и технологии. — 2005. — № 8. — С. 198 — 201.
7. Методы диагностики полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов / Горлов М. И., Емельянов В. А., Рубцевич И. И., Смирнов Д. Ю. // Микроэлектроника. — 2005. — Т. 34. — № 3. —
С. 27—36.
8. Использование уровня шумов для контроля полупроводниковых изделий при термоциклировании / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Ю. Е. Сегал, А. В. Емельянов // Известия вузов. Электроника. — 2005. — № 6. — С. 89—92.
9. Kester W., Bryant J. Programmable Gain Amplifiers. Op Amp Applications. — Copyright © 2002 By Analog Devices Inc. — ISBN 0-916550-26-5.
10. Красносельский М. А. Системы с гистерезисом / М. А. Красносельский, А. В. Покровский. — М. : Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1983. — 272 с.
Downloads
-
PDF (Українська)
Downloads: 38
Abstract views: 156
Published
2010-11-12
How to Cite
[1]
V. M. Kychak and D. V. Mykhalevskyi, “Method of relative forecast of electronic equipment reliability by the level of low-frequency noise”, Вісник ВПІ, no. 5, pp. 141–146, Nov. 2010.
Issue
Section
Radioelectronics and radioelectronic equipment manufacturing
License
Authors who publish with this journal agree to the following terms:
- Authors retain copyright and grant the journal right of first publication.
- Authors are able to enter into separate, additional contractual arrangements for the non-exclusive distribution of the journal's published version of the work (e.g., post it to an institutional repository or publish it in a book), with an acknowledgment of its initial publication in this journal.
- Authors are permitted and encouraged to post their work online (e.g., in institutional repositories or on their website) prior to and during the submission process, as it can lead to productive exchanges, as well as earlier and greater citation of published work (See The Effect of Open Access).
